塑料薄膜测厚仪又叫膜厚仪、膜厚测试仪、膜厚计或者镀层测厚仪（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可无损地测量磁性金属基体（如：钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等），以及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。X光镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量*的检测仪器，
塑料薄膜测厚仪特点：
1、满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
2、φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
3、高精度移动平台可准确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
4、采用高度定位激光，可自动定位测试高度；
5、定位激光准确定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
6、鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
7、高分辨率探头使分析结果更加精准；
8、良好的射线屏蔽作用；
9、测试口高度敏感性传感器保护；
塑料薄膜测厚仪的优势如下：
1、对于压敏胶，涂布/纸加工，烟草薄片，水性涂层，热熔胶等材料，赛默斐视薄膜X光镀层测厚仪拥有非接触测量的优势。
2、在保证测量速度的基础上，赛默斐视薄膜X光镀层测厚仪能够将被测物微小的厚度变化完整地呈现出来。
3、X光镀层测厚仪能拥有*的重复性，预计GRR能够达到5%左右。
随着科学技术的日益进步我们不断的引进和创新着镀层测厚仪的新技术，以实现产品的测量的化，但是影响到我们测量数据的不只是只有镀层测厚仪本身的技术程度，测量的手法及细节也会影响测量的具体数据。
