高精度薄膜测厚仪

高精度薄膜测厚仪THK-01采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度准确测量，也成为薄膜厚度测量仪、塑料薄膜厚度测试仪、薄膜厚度检测仪和薄膜厚度测定仪等。

薄膜测厚仪

高精度薄膜测厚仪主要参数：

通用名称：测厚仪

测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配）

分辨率：0.1μm

测试速度：1～25次/min

测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）

重复性：0.3μm

测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；

接触面积：50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；薄膜、纸张任选一种，非标可定制

电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

约净重：30Kg

测试标准

该仪器符合多项国家和国际标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817