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高精度薄膜测厚仪

高精度薄膜测厚仪

所属分类:高精度薄膜测厚仪

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更新时间:2021-06-03


描述:高精度薄膜测厚仪THK-01采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。

详细信息

高精度薄膜测厚仪THK-01采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度准确测量,也成为薄膜厚度测量仪、塑料薄膜厚度测试仪、薄膜厚度检测仪和薄膜厚度测定仪等。

薄膜测厚仪

薄膜测厚仪

 

高精度薄膜测厚仪主要参数:
通用名称:测厚仪
测量范围:0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配) 
分辨率:0.1μm
测试速度:1~25次/min
测量头平行度:±2μm(机械调整,量块校验)
重复性:0.3μm
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);
接触面积:50mm2(薄膜); 200mm2 (纸张);
                薄膜、纸张任选一种,非标可定制
电源:AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸:300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重:30Kg

 

测试标准
该仪器符合多项国家和国际标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

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