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台式薄膜测厚仪 自动薄膜厚度测量仪

台式薄膜测厚仪 自动薄膜厚度测量仪

所属分类:薄膜测厚仪

浏览次数:56

更新时间:2021-01-27


描述:台式薄膜测厚仪 自动薄膜厚度测量仪THK-01
严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制

详细信息

产品名称:台式薄膜测厚仪 自动薄膜厚度测量仪

仪器型号:THK-01

相关关键词:台式薄膜测厚仪、薄膜自动测厚仪、薄膜厚度测量仪、台式薄膜厚度计、高精度薄膜测厚仪、薄膜厚度测试仪、薄膜厚度检测仪

薄膜测厚仪

实验室薄膜测厚仪 薄膜自动厚度测量仪

 

薄膜广泛应用于产品包装、电子生产等工业中的各个方面。

在薄膜中,厚度是否均匀是衡量其质量的重要标准,因为如果薄膜厚度不均,不但会影响到薄膜的拉伸强度、阻隔性等,还会影响到薄膜的后续加工。

对于微电子薄膜、光学薄膜等,薄膜的厚度还直接关系到薄膜材料能否正常工作;另外,大规模集成电路中的薄膜,如果厚度发生变化,会直接影响到电路性能。除此之外,薄膜材料的力学性能,透光性能,磁性能,热导率,表面结构等都与厚度密不可分。

因此,薄膜厚度测量是一项重要的塑料薄膜物理性能检测项目。

众测机电研发生产的台式薄膜测厚仪THK-01符合GB/T6672 《塑料薄膜和薄片厚度测定-机械测量法》、ISO4593《塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度》等标准,该厚度测量仪器广泛适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度准确测量。

 

台式薄膜测厚仪 自动薄膜厚度测量仪主要参数:
专业名称:测厚仪
仪器型号:THK-01
测量范围:0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配) 
分辨率:0.1μm
测试速度:1~25次/min
测量头平行度:±2μm(机械调整,量块校验)
重复性:0.3μm
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);
接触面积:50mm2(薄膜); 200mm2 (纸张);
                薄膜、纸张任选一种,非标可定制
电源:AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸:300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重:30Kg

 

台式薄膜测厚仪THK-01采用标准厚度计量工具标定、检验,方便用户快速标定设备;配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,误差小;配备标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输,被广泛应用于质检单位、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。

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