薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。
众测机电研发生产的高精度薄膜测厚仪THK-02采用光栅传感器，适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量，也称为薄膜厚度测量仪、薄膜厚度检测仪和塑料薄膜厚度测定仪等。
测厚仪
高精度薄膜测厚仪主要参数
通用名称：测厚仪
仪器型号：THK-02
测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配）
分辨率：0.1μm
均匀性：0.3μm
测试速度：1～25次/min
测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）
重复性：0.3μm
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；
接触面积：50mm²(薄膜)； 200mm² (纸张)；薄膜、纸张任选一种，非标可定制
电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重：30Kg
标准配置：主机、液晶触摸屏、电源线、标准量块
选配件：非标测量头
匠心设计
•测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量
•可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制
•测量支架采用具有高吸振特性、受温度变化极小的球墨铸铁一体成形，有效减轻了外界震动、温度变化对测试产生的影响
•进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性
测试原理
将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。
薄膜测厚仪生产厂家
