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高精度薄膜测厚仪THK-02

高精度薄膜测厚仪THK-02

所属分类:测厚仪

浏览次数:89

更新时间:2021-08-17


描述:高精度薄膜测厚仪THK-02采用光栅传感器,广泛应用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。

详细信息


薄膜等包装材料厚度是否均匀一致,是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀,不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等,更会影响薄膜的后续加工。


众测机电研发生产的高精度薄膜测厚仪THK-02采用光栅传感器,适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量,也称为薄膜厚度测量仪、薄膜厚度检测仪和塑料薄膜厚度测定仪等。


高精度薄膜测厚仪

测厚仪


高精度薄膜测厚仪主要参数

通用名称:测厚仪

仪器型号:THK-02

测量范围:0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配)

分辨率:0.1μm

均匀性:0.3μm

测试速度:1~25次/min

测量头平行度:±2μm(机械调整,量块校验)

重复性:0.3μm

测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);

接触面积:50mm²(薄膜); 200mm² (纸张);薄膜、纸张任选一种,非标可定制

电源:AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸:300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

约净重:30Kg

标准配置:主机、液晶触摸屏、电源线、标准量块

选配件:非标测量头



匠心设计

•测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量

•可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制

•测量支架采用具有高吸振特性、受温度变化极小的球墨铸铁一体成形,有效减轻了外界震动、温度变化对测试产生的影响

•进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性





测试原理

将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面,以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度。




薄膜测厚仪生产厂家

薄膜测厚仪生产厂家











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