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电脑式薄膜测厚仪

电脑式薄膜测厚仪

所属分类:自动薄膜厚度测量仪

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更新时间:2024-03-04


描述:电脑式薄膜测厚仪THK-01适用薄膜、电池隔膜、太阳能电池硅片、纸张、胶带等硬质和软质材料厚度准确测量

详细信息

电脑式薄膜测厚仪THK-01适用于用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度准确测量,是一款测试误差低的全自动机械接触式测厚仪,本设备被广泛应用于质检机构、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。

01测厚仪.jpg

电脑薄膜测厚仪

电脑式薄膜测厚仪主要参数:
仪器型号:THK-01
通用名称:测厚仪
测量范围:0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配)
分辨率:0.1μm
测试速度:1~25次/min
测量头平行度:±2μm(机械调整,量块校验)
重复性:0.3μm
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);
接触面积:50mm2(薄膜); 200mm2 (纸张);
               薄膜、纸张任选一种,非标可定制
电源:AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸:300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重:30Kg


检测原理:采用接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测厚仪测量头自动降落于试样之上,依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。


本检测仪器严格按照标准设计的接触面积和测量压力,操作智能化,检测效率高;自动升降测量头,有效简化人员操作;采用进口传感器,自动双重测量模式,可一键实现全自动多点测量,为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。



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