太阳能电池硅片测厚仪THK-01采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性,适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度准确测量,也称为电池硅片厚度测量仪、硅片厚度仪等。
与其他测厚仪先比,本厚度测量仪具备匠心设计,体现在以下几点:
1.测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量
2.可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制
3.测量支架采用具有高吸振特性、受温度变化极小的球墨铸铁一体成形,有效减轻了外界震动、温度变化对测试产生的影响
4.进口采样芯片,有效保证测试准确性与实时性
太阳能电池硅片测厚仪THK-01主要参数:
通用名称:测厚仪
测量范围:0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配)
分辨率:0.1μm
测试速度:1~25次/min
测量头平行度:±2μm(机械调整,量块校验)
重复性:0.3μm
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);
接触面积:50mm2(薄膜); 200mm2 (纸张);
薄膜、纸张任选一种,非标可定制
电源:AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸:300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重:30Kg