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薄膜热封性能测试仪

薄膜热封性能测试仪

所属分类:热封性能测试仪

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更新时间:2024-03-04


描述:薄膜热封性能测试仪HSR-01通过其标准化的设计、规范化的操作,可获得精确的热封试验指标。

详细信息

薄膜热封性能测试仪HSR-01(Heat Seal Tester)采用热压封口法测定塑料薄膜基材、软包装复合膜、涂布纸及其它热封复合膜的热封温度、热封时间、热封压力等参数。熔点、热稳定性、 流动性及厚度不同的热封材料,会表现出不同的热封性能,其封口工艺参数可能差别很大。

热封.jpg

薄膜热封性能测试仪主要参数:
热封温度:室温~300℃
热封压力:50~700Kpa(取决于热封面积)
热封时间:0.1~999.9s
控温精度:±0.2℃
温度均匀性:±1℃
加热形式:双加热(可独立控制)
热封面:330 mm×10 mm(可定制)
电源:AC 220V 50Hz / AC 120V 60 Hz
气源压力:0.7 MPa~0.8 MPa (气源用户自备)
气源接口:Ф6 mm聚氨酯管
外形尺寸:400mm (L)×320 mm (W)×400 mm (H)
约净重:40kg


测试原理及:
本检测仪器采用热压封口法,将待封试样置于上下热封头之间,在预先设定的温度、压力、和时间下,完成对试样的封口。


符合标准:该仪器满足多种国家和标准:QB/T 2358(ZBY 28004)、ASTM F2029、YBB 00122003-2015、YBB OO152002- 2015、YBB 00212005-2015、YBB 00232005-2015、YBB00222005-2015、YBBOO82004-2015、YBB00202005-2015、YBB00242002-2015


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